科研級(jí)微分干涉顯微鏡
科研級(jí)微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與多功能、模塊化的設(shè)計(jì)理念,帶有偏光裝置、微分干涉裝置,可實(shí)現(xiàn)偏光觀察、微分干涉觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求。符合人機(jī)工程學(xué)要求的理想設(shè)計(jì),使操作更方便舒適,空間更廣闊。適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結(jié)構(gòu)分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導(dǎo)電粒子分析研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)
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- 型號(hào): WYJ-4XDIC